泰克吉時(shí)利4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝參數(shù)分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數(shù)分析儀具有無(wú)可比擬的測(cè)量靈敏度和精度，同時(shí)繼承了嵌入式Windows操作系統(tǒng)合及時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境，為半導(dǎo)體科研及產(chǎn)業(yè)用戶(hù)進(jìn)行半導(dǎo)體器件特性分析提供了直觀而高級(jí)的功能。它是一套功能強(qiáng)大的單機(jī)解決方案。4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)采用了模塊化、可配置、可升級(jí)的架構(gòu)。這使得它能夠準(zhǔn)確滿足當(dāng)前的測(cè)量需求，也可以模塊擴(kuò)展以滿足后續(xù)的需求。

      它可以支持多達(dá)9個(gè)精密直流源-測(cè)量單元能夠提供和測(cè)量0.1fA到1A的電流或者1μV-210V的電壓；
利用4210-CVU（C-V）模塊可以方便的在1KHz-10MHz測(cè)試頻率下進(jìn)行交流阻抗測(cè)試�？梢詼y(cè)量的電容范圍從aF級(jí)到μF級(jí)；

        利用可選的4225-PMU超快I-V模塊可以進(jìn)行脈沖和舜態(tài)測(cè)量。

         吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）提供了一套完整的圖形用戶(hù)界面，無(wú)需編程即可支持幾乎所有類(lèi)型的特性分析測(cè)試。它提供了多達(dá)456種標(biāo)準(zhǔn)的特性分析測(cè)試庫(kù)，包括MOSFET，BJT晶體管、二極管、電阻器、電容器、太陽(yáng)能電池、碳納米管和NVM存儲(chǔ)器，例如Flash、PRAM，PCRAM等。