系統(tǒng)背景：
　   功率半導體器件技術(shù)自新型功率MOS器件問世以來得到長足進展，已深入到工業(yè)生產(chǎn)與人民生活的各個方面，一些諸如SJ在內(nèi)的新結(jié)構(gòu)的研究，功率半導體技術(shù)正朝著高溫，高頻，低功耗，高功率容量方向發(fā)展，以SIC/GA為代表的第三代新材料功率半導體器件正在不斷走向成熟。這些器件高功率半導體器件和組件的特性分析與測試對測試設(shè)備要求越來越高，需要高達數(shù)十安培的電流和數(shù)千伏的電壓測量及更高的測試精度。
      傳統(tǒng)圖示儀在精度，量程，可靠性以及可生成曲線種類局限，無法編程控制，數(shù)據(jù)存儲操作復雜等諸多因素，在電源的設(shè)計、來料檢驗及失效分析環(huán)節(jié)略顯力不從心，在高效率精密電源的關(guān)鍵元器件選型和質(zhì)量管控上更為捉襟見肘。
      由于TEK 的370B的停產(chǎn)，廣州美達克科技有限公司基于Keithley高功率源表,配有多種高質(zhì)量儀器、線纜、測試夾具和軟件，可以替代370B的一體化解決方案,滿足高壓，大電流，高精度的測試要求，解決操作復雜，接線麻煩等一系列問題，使測試更簡單，高效，可以高度定制。

系統(tǒng)說明：

　          晶體管測試系統(tǒng)基于數(shù)字源表?源測量單元(SMU)和/或半導體特性分析儀器。這些儀器的動態(tài)范圍和準確度比傳統(tǒng)曲線跟蹤儀高出若干數(shù)量級，滿足當今功率半導體器件對高電壓，大電流，高精度的要求。
為了實現(xiàn)這個性能，配合一系列高精密電纜，實現(xiàn)與吉時利8010型高功率器件測試夾具的連接。對于高電壓通道，定制三軸電纜可以提供保護路徑，支撐快速建立和極低電流，包括在3kV全高壓情況下。對于高電流通道，專用低電感電纜可以提供更快的上升時間脈沖，實現(xiàn)器件自發(fā)熱效應的最小化。安全、高效的測試夾具至關(guān)重要。8010型夾具可以提供互鎖的屏蔽環(huán)境，支持低電流/高電壓測試以及高電流/低電壓測試。8010型夾具包括與高精度電纜匹配的高性能連接器以及保護電路，防止在器件故障情況下高壓通道破壞基極/柵極通道。
      為了使測試更簡單方便，配合專業(yè)的測試軟件，可以配置包括特性分析工程師快速開發(fā)完整測試系統(tǒng)所需的一切。軟件提供完整的器件特性分析，包括：曲線模式，用于測試ＩＶ曲線，提取器件參數(shù)。實時跟蹤模式，用于對器件主要參數(shù)（如擊穿電壓）進行快速檢測；組合模式，客戶可以根據(jù)需要設(shè)置測試來回掃描次數(shù)，測試序列的間隔時間，可以幫助客戶無需手動操作即可自動長時間測試器件，以達到對器件的可靠性壽命測試，4個窗口同時顯示曲線可以幫助客戶進行曲線參數(shù)對比。更重要的是，用戶可以對全部測試源進行完全控制，使他們能夠創(chuàng)建前所未有的更先進測試。

測試系統(tǒng)特點： 

      - 測量動態(tài)范圍寬：電壓從uA到3KV,電流從fA到50A
- 高精度，電流分辨率達到fA級
- 具有曲線模式，跟蹤模式，組合模式，可以進行IV曲線多次測試，來回掃描測試，器件參數(shù)提取，失效分析，可靠性分析等
- 配置簡單，一體化設(shè)計，儀器設(shè)定由上位機軟件完成
- 友好操作的人機界面，軟件可實現(xiàn)高度定制

 測試參數(shù)匯總：

       1．針對MOS管器件的參數(shù)：

       2．針對BJT的測試參數(shù)：

       3．測試IGBT的參數(shù)范圍：

      選型指南：